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涡流测厚仪的测量原理
发布时间:2016-07-12   点击次数:1734次

    涂层粗厚仪介绍膜厚校正片是涡流测厚仪计量基准,全部经过技术监督部门的检测,附有检测报告,保证了仪器计量的准确性和可靠性。测厚仪最容易损坏的部件是探头,该仪器对探头做了特殊的耐久性设计,具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。探头线是在日本定做的,这种导线最初用于机器人,规定可经受几百万次的曲折。

    涡流测厚仪是一种小型便携式仪器。 重现性好、经济耐用,符合国家标准GB/T4957,多次通过国家技术监督部门的性能试验,获得计量器具制造许可证。 仪器的标准物质—膜厚校准箔片,由辽宁省计量院检测,附有辽宁省计量院出具的检测报告。仪器在国内铝型材、铝门窗、技术监督、工程质检等行业得到广泛应 用,得到用户的信任与好评。

    铝型材行业是使用环境最恶劣的,对膜厚检测的要求也最高,通常要求对每根型材测试两端的膜厚。测厚仪每天可能测试上千次。探头还要时常受到水或氧化槽液的 侵蚀,磕磕碰碰时有发生。目前国产涡流测厚仪有多个品牌,但是只有天星测厚仪 ED300 及早期产品ED200 是可以在这种场合长期使用的。目前几乎每一家铝型材厂都在使用天星测厚仪,而其他国内品牌,加上进口仪器的总使用量还不及天星仪器的 1/3。以上足以说明天星测厚仪性能之优良。铝型材行业用得住的测厚仪,在其他行业应用应该毫无问题。

涂层粗厚仪

涡流测厚仪的测量原理:

    频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与 导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测 头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚 仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。

    涡流测厚仪采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍。虽然钢铁基体亦为导电体,但 这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

 

 

 

 

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